P603-1 / P750 set 集成电路传导发射测量探头

产品简介：

P603-1 / P750 set 是由德国 Langer EMV-Technik 公司生产的专用于集成电路及各种功能芯片依照IEC61967-4 标准测试传导发射的一个测量探头套装，套装内包含 P603-1 和 P750 两个不同的探头，还提供了标准的CS-ESA测试软件。

该产品被授权由深圳EUTTEST代理销售和报价服务。

测试功能说明：

该探头套装用于根据 IEC 61967-4 测量集成电路引脚的传导辐射（直接 1 欧姆/150 欧姆耦合测量）。各有一个探头可用于电流和电压测量。高分辨率的探针尖端可接触到每个测试 IC 引脚。

使用探针套装进行的测量可确保重复测量的高精度和可比性。

可使用 ChipScan-ESA 软件进行测量。所有被测引脚的测量结果都保存在软件中，可以快速、系统地进行比较。

P603-1 / P750 set 包含附件清单：

点击下方列表产品型号了解套装内附件的详细参数。

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