集成电路的EMC测试仪器主要用于测试集成电路或芯片上的辐射发射,也可以通过芯片引脚或空间注入射频干扰、脉冲电压等干扰,以确认芯片是否还能正常工作。和电子产品测试EMC一样,芯片的EMC测试分为很多种类,详情点击下方产品了解详细信息。
S603 是由德国 Langer EMV 生产并由EUTTEST代理销售的1Ω高频电流探头,可用频率为:DC-3GHz, S603 符合IEC 61947-4进...查看此产品
P1702 是由德国langer-emv生产并由EUTTEST代理销售的IC集成电路电场探头,频率范围可达3GHz,金属的外壳能和GND25连接板吻合并隔离外部...查看此产品
P1602 是由德国langer-emv生产并由EUTTEST代理销售的专用于IC集成电路的磁场测试探头,频率范围可达3GHz,金属的外壳能和GND25连接板吻...查看此产品
P1601 是由德国langer-emv生产并由EUTTEST代理销售的专用于IC集成电路的磁场测试探头,频率范围可达1GHz,金属的外壳能和GND25连接板吻...查看此产品
P750 是由德国langer-emv生产并由EUTTEST代理销售的150Ω高频电流探头,可用频率为:150kHz-3GHz, P750 符合IEC 6194...查看此产品
P622 是由德国langer-emv生产并由EUTTEST代理销售的0.1Ω高频电流探头, P622 是有源的0.1Ω探头。 所以测试时需要从探头后端提供电源...查看此产品
P603-1 是由德国 Langer-EMV 生产并由EUTTEST代理销售的1Ω高频电流探头,可用频率为:0.2kHz-3GHz, P603-1 符合IEC ...查看此产品
P603 是由德国langer-emv生产并由EUTTEST代理销售的1Ω高频电流探头,可用频率为:9kHz-3GHz, P603 符合IEC 61947-4进...查看此产品
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