集成电路-EMC测试仪器

集成电路的EMC测试仪器主要用于测试集成电路或芯片上的辐射发射,也可以通过芯片引脚或空间注入射频干扰、脉冲电压等干扰,以确认芯片是否还能正常工作。和电子产品测试EMC一样,芯片的EMC测试分为很多种类,详情点击下方产品了解详细信息。

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当前设备分类中正在销售的测试仪器产品总数: 38;当前页面共: 6个产品。
P603 Langer 1Ω高频电流探头 符合IEC 61947-4 

P603 Langer 1Ω高频电流探头 符合IEC 61947-4 

P603 是由德国langer-emv生产并由EUTTEST代理销售的1Ω高频电流探头,可用频率为:9kHz-3GHz, P603 符合IEC 61947-4进...查看此产品

P602 Langer 0.1Ω高频电流探头 符合IEC 61947-4 

P602 Langer 0.1Ω高频电流探头 符合IEC 61947-4 

P602 是由德国 langer-emv 生产并由EUTTEST代理销售的0.1Ω高频电流探头, P602 是0.1Ω探头,用于直接测量集成电路引脚上的高频电流...查看此产品

EPM02 Langer-EMV 电场探头选件

EPM02 Langer-EMV 电场探头选件

EPM02 是德国 Langer EMV 公司生产并由EUTTTEST代理销售的IC集成电路电场探头,EMP02是一个选件,可以配合P1601,P1602,P1...查看此产品

CS-ESA set 和 ChipScan-ESA 集成电路IC测试系统 软件

CS-ESA set 和 ChipScan-ESA 集成电路IC测试系统 软件

CS-ESA set 是一个用于IC集成电路EMI测试的安装于电脑的软件包,安装完成后的软件名为: ChipScan-ESA ,集成电路IC扫描软件 ChipS...查看此产品

BPM02 Langer EMV 磁场探头选件

BPM02 Langer EMV 磁场探头选件

BPM02 是德国langer-emv生产并由EUTTTEST代理销售的IC集成电路磁场探头,BMP02是一个选件,可以配合P1601,P1602,P1702使...查看此产品

FLS 106 IC set 集成电路用的4轴位移扫描定位测试系统

FLS 106 IC set 集成电路用的4轴位移扫描定位测试系统

FLS 106 IC set 是由德国langer公司生产的一个4轴位移扫描定位测试系统,由深圳EUTTEST代理销售。FLS 106 IC set 系统包含一...查看此产品