集成电路芯片的安全测试设备主要是使用各种测试探头将快速瞬态磁场或电场以及电流脉冲注入 IC,并观察芯片是否出现异常。
常见的测试方式还有对芯片进行边缘信道分析,也可以使用此分类的测试仪器进行测试。
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BPS 204 脉冲信号发生器(Burst Power Station)是双脉冲探头的电源和控制单元。通过USB接口连接到用户的PC。它由BPS 204客户端软...查看此产品
ICI-DP HH250-15 是由德国langer公司生产的一种集成电路双脉冲故障注入磁场探头,探头尖端直径为250μm,双脉冲磁场源 ICI-DP HH 2...查看此产品
ICI-DP HH500-15 set 是由德国 Langer-EMV 公司生产并授权由深圳EUTTEST代理销售的一套集成电路故障注入测试套装, ICI-DP...查看此产品
ICI-DP HH1000-15 set 是由德国 Langer EMV 公司生产并授权由深圳EUTTEST代理销售的一套集成电路故障注入测试套装, ICI-D...查看此产品
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ICI-DP HH250-15 set 是由德国langer-emv生产并授权由深圳EUTTEST代理销售的一套集成电路故障注入测试套装, ICI-DP HH2...查看此产品
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