集成电路测试仪器和其他EMC仪器一样,也分为干扰和抗干扰两部分仪器。另外对于集成电路IC还有新兴的测试方式是IC安全测试设备、IC边缘信道分析设备这两个方面,详情点击下方产品分类或产品链接了解更多信息。
ICI E450 L-EFT set 是德国langer公司开发的一套脉冲电场注入测试系统,由深圳EUTTEST代理销售和售后服务。该系统包含一个型号为 ICI...查看此产品
ICI E450 L-EFT 是由德国langer公司生产的一个电场注入探头,450μm的探头尺寸可以让工程师将快速瞬态脉冲注入或耦合到被测IC表面或引脚上,这...查看此产品
ICI I900 L-EFT 是由 Langer EMV 公司生产的一个脉冲信号注入探头,一般用于偏置注入或耦合到被测IC芯片,探头尖端采用弹簧设计,便于测试工...查看此产品
ICI I900 L-EFT set 是由德国 Langer – EMV 公司生产的一套脉冲抖动干扰测试系统,专用于注入干扰到集成电路芯片的引脚或表面,系统主要...查看此产品
ICI HH500-15L-EFT set 是由德国 langer emv 公司生产的一个脉冲磁场故障注入实验套装,专用于集成电路芯片的注入干扰测试。套装内部包...查看此产品
ICI HH500-15L-EFT 是来自德国 Langer 公司的一个脉冲磁场注入探头,它是ICI HH500-15L-EFT set 套装里的一个附件。IC...查看此产品
ICI-DP HH500-15 是由德国 Langer-EMV 公司生产的一种集成电路双脉冲故障注入磁场探头,探头尖端直径为500μm,双脉冲磁场源 ICI-D...查看此产品
ICI-DP HH1000-15 是一种集成电路双脉冲故障注入磁场探头,由德国 Langer 公司生产并由EUTTEST代理销售和售后服务。 ICI-DP HH...查看此产品
EUTTEST 网站搜索:
输入仪器设备型号等信息
等待实时搜索结果列出