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XF1 set LANGER-EMV 无源近场探头 30MHz-6GHz

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XF1 set 无源近场探头 德国 LANGER-EMV 30MHz-6GHz

XF1 set是什么?

近场探头组 XF1 SET 是由德国Langer-emv公司生产并由EUTTEST代理销售的高分辨率近场探头,它包含4个无源磁场探头和3个无源电场探头,用于在电子模块研发阶段进行电场和磁场的测量,覆盖频率范围为30MHz到6GHz。这种探头内置阻抗匹配器,因而与其他探头(如RF型探头)相比在低频区域较不敏感。由于其频率范围宽并包含从很大到很小尺寸的各种探头,因而有着广泛的应用。探头的组合完全按照顾客的需求。 XF系列的探头可以用于逐步查找模块的干扰场源。我们建议,首先使用大型高灵敏探头从远距离查找模块的干扰放射源,然后再用更高分辨率的探头进一步精确定位干扰源。通过相应地操作近场探头,能够测量出电磁场的方向及其分布。这种近场探头小巧轻便,并采用外皮电流衰减。磁场探头采用电屏蔽设计。 这种近场探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。这些近场探头的内部安装有终端电阻。

装箱清单:

以下探头可以任意搭配选购,Ø 是可测试的大概分辨率:

XF序列近场探头包含多个探头:

  • 1x XF-B 3-1, 磁场探头(30MHz-6Hz)
  • 1x XF-E 10, 电场探头(30MHz-6GHz)
  • 1x XF-R 3-1, 磁场探头(30MHz-6GHz)
  • 1x XF-R 400-1, 磁场探头(30MHz-6Hz)
  • 1x XF-U 2.5-1, 磁场探头(30MHz-6GHz)
  • 1x SMA-SMA 1 m, SMA-SMA 测量电缆
  • 1x XF 1 qg, XF1系列 快速指南
  • 1x Case 5

近场探头的技术参数:

XF-R 400-1 XF-R 400-1

磁场探头(30MHz-6GHz)Ø ≈ 25 mm

XFS-R 100-1 XFS-R 100-1

磁场探头(30MHz-6GHz)

Ø ≈(10×10) mm,分辨率10mm

XF-R 3-1 XF-R 3-1

磁场探头(30MHz-6GHz)

Ø ≈3 mm,分辨率1mm

XF-B 3-1 XF-B 3-1

磁场探头(30MHz-6GHz)

Ø ≈4mm,分辨率2mm

XF-U 2.5-1 XF-U 2.5-1

磁场探头(30MHz-6GHz)

Ø ≈4mm,分辨率0.5mm

XF-E 09s XF-E 09s

电场探头(30MHz-6GHz)

Ø ≈10*10mm

XF-E 04s XF-E 04s

电场探头(30MHz-6GHz)

Ø ≈5*5mm

XF-E 10 XF-E 10

电场探头(30MHz-6GHz)

Ø ≈0.5*2mm 分辨率=0.2mm

XF1 set 近场探头测试方法如下图:

近场探头需要配合频谱仪或接收机使用

近场探头测试配置图
近场探头测试配置图

各个探头的频率特性曲线和插入损耗可以联系EUTTEST咨询。

使用低分辨率的探头找到大概的干扰位置,然后再用高分辨率的探头找到具体元件位置。

主要技术参数:

频率范围:30MHz -6GHz

接口:SMB, male, jack

获得仪器设备报价的方式:

一、电话咨询

二、填写下方表单


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