德国Langer-emv- E1 -EUTTEST.COM-静电脉冲群抗干扰整改及开发系统

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    E1抗干扰性开发系统是一套集成电路板开发过程中进行抗干扰分析的 EMC工具系统。采用E1抗干扰开发系统,能够快速精准地定位脉冲群干扰和静电放电干扰的原因(薄弱点),使工程师开发人员能够准确针对薄弱点设计恰当的 EMC措施,并且使用 E1 评估 EMC措施的效果。E1 检测设备的搭建空间小,适宜于在电子元件开发人员的工作场地使用。E1 用户手册对EMC工作机制以及集成电路板去干扰的基本测量策略作出详细描述。E1 组套包括一个脉冲群干扰和静电放电干扰发生器、九种不同的电场和磁场源、以及其他各类附件。

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    E1抗干扰开发系统可模拟脉冲群、静电等脉冲注入到PCB线缆、PCB元件引脚、及PCB表明电场干扰,以判断EUT在E1开发系统干扰注入下的工作能力,EUT受到敏感干扰会出现死机、重启等可重复性故障现象,以确定PCB最敏感的位置。

     

    多个电场和磁场探头可将SGZ21产生的脉冲信号转化脉冲磁场和电场信号,所以也可以用于瞬变电磁场辐射敏感度测试整改及确认PCB最薄弱的位置,为电子研发工程师整改PCB提供方向性的指导。

     

    E1抗干扰开发系统可用于以下标准的产品抗扰度提供整改依据:

    1、IEC61000-4-4(国标GB/T-17626.4):电快速瞬变脉冲群抗扰度试验

    2、IEC61000-4-2(国标GB/T-17626.2):静电放电抗扰度试验

    3、GJB151A/152A-CS115:电缆束注入脉冲激励传导敏感度

    4、GJB151A/152A-RS105:瞬变电磁场辐射敏感度

     

     

    装箱清单:

     

            1x SGZ 21, 脉冲群发生器 - 脉冲密度计数器

            1x S21, 光学传感器(10 Mbps)

            1x BS 02

            1x BS 04DB, 磁场源探头

            1x BS 05D, 磁场源

            1x BS 05DU, 磁场源探头

            1x ES 00, 电场源探头

            1x ES 01, 电场源探头

            1x ES 02, 电场源探头

            1x ES 05D, 电场源探头

            1x ES 08D, 电场源探头

            1x MS 02, 磁场探头

            1x E1 acc

            1x NT FRI EU

            1x E1 case, System case

            1x E1 m, E1系列 用户手册

     

     

    主要技术参数:

    S21 光学传感器        

    传输范围:DC...10 Mbps

    光纤接口:2.2 mm Ø

    电源电压:(3-5) V

    电流输入:10 mA

    SGZ 21 脉冲群发生器 - 脉冲密度计数器        

    脉冲参数

    上升时间:ca. 2 ns

    波尾时间:ca. 10 ns

    峰值:ca. 0...1500 V

    光学输入        

    光纤:2.2 mm

    最大频率:5 MHz

    最小脉冲宽度:100 ns

    电源电压:12 V / 200 mA

    尺寸 (L x W x H)(154 x 100 x 62) mm

            

    装箱配置图

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    场源探头组,包括各种尺寸和形状的磁场场源探头和电场场源探头,最小分辨率可达小于1mm。 可以连接到SGZ21信号源,向被测电路中的接地系统、电源系统、集成电路、引脚、分立元件、关键 布线、电缆、接插件等地方注入干扰,用于精确定位电路敏感点位置。

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    E1的SGZ21配合磁场探头S2-SET测试图

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    深圳市易优特测试技术有限公司还提供用于RE整改用的100kHz-10GHz近场探头

     

    Langer-EMV提供从100kHz-10GHz近场探头组,更多langer-emv近场探头型号可下载DATASHEET选择。也包括前置放大器的选型。

    Langer-emv近场探头及低噪声前置放大器选型

    更多设备信息请联系EutTest.com咨询

     

最后修改:2019-07-15 20:22
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