德国Langer-emv- LF1 set -EUTTEST.COM-近场探头组 100kHz-50MHz

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    LF 1近场探头组包含4个屏蔽无源近场探头,用于在研发阶段测量电子模块上长波、中波和短波区的射频磁场。使用LF 1探头组的探头,可以逐步定位集成电路上的干扰放射源。首先使用探头LF-R 400从远距离探测模块的干扰发射情况,接下来再用更高分辨率的探头LF-B 3、 LF-U 5和LF-U 2.5对干扰源进行更精确的定位。采用这些探头可以测量单个引脚、较大元件和结构件。 这些近场探头小巧轻便,并采用外皮电流衰减和电屏蔽设计。 这种近场探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。这些近场探头的内部没有50Ω的终端阻抗。

     

    装箱清单

     

    1x LF-R 400, 磁场探头(100 KHz - 50 MHz)

    1x LF-B 3, 磁场探头(100KHz-50MHz)

    1x LF-U 2.5, 磁场探头(100KHz-50MHz)

    1x LF-U 5, 磁场探头(100KHz-50MHz)

    1x SMB-BNC 1 m, SMB-BNC 测量电缆

    1x Case 4+

    img2

     

    LF1-SET测试方法:

    利用LF1-SET中的四个探头,首先选择大分辨率的探头进行辐射发射干扰点的最大粗略位置,然后在使用分辨率最高的探头进行最终判断是哪个芯片或电子元件上产生的干扰,以此来找出EUT的辐射发射干扰来源。

    探头为了测试到更小的RF射频信号,可能需要配置一个前置放大器放置于频谱仪/接收机及LF1之间,为LF1的探头提供更大的可测试动态范围。

     

    img3

     

    Langer-EMV提供从100kHz-10GHz近场探头组,更多langer-emv近场探头型号可下载DATASHEET选择。也包括前置放大器的选型。

    Langer-emv近场探头及低噪声前置放大器选型

     

     

     

    • 厂家
      LANGER-EMV
    • 国家
      德国
    • 附件
      EMC整改工具
最后修改:2019-07-15 20:22
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德国Langer-emv- LF1 set近场探头组 100kHz-50MHz用于在研发阶段测量电子模块上长波、中波和短波区的射频磁场。使用LF 1探头组的探头,可以逐步定位集成电路上的干扰放射源。
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