LANGER-EMV 无源XF序列-30MHz-6GHz高分辨率近场探头-深圳市易优特测试技术有限公司

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    img1

    XF系列探头包含4个无源磁场探头和3个无源电场探头,用于在电子模块研发阶段进行电场和磁场的测量,覆盖频率范围为30MHz到6GHz。这种探头内置阻抗匹配器,因而与其他探头(如RF型探头)相比在低频区域较不敏感。由于其频率范围宽并包含从很大到很小尺寸的各种探头,因而有着广泛的应用。探头的组合完全按照顾客的需求。 XF系列的探头可以用于逐步查找模块的干扰场源。我们建议,首先使用大型高灵敏探头从远距离查找模块的干扰放射源,然后再用更高分辨率的探头进一步精确定位干扰源。通过相应地操作近场探头,能够测量出电磁场的方向及其分布。这种近场探头小巧轻便,并采用外皮电流衰减。磁场探头采用电屏蔽设计。 这种近场探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。这些近场探头的内部安装有终端电阻

     

    装箱清单:

    以下探头可以任意搭配选购,Ø 是可测试的大概分辨率

    XF序列近场探头包含多个探头:

    1、                      XF1 set

    1x XF-B 3-1, 磁场探头(30MHz-6Hz)

    1x XF-E 10, 电场探头(30MHz-6GHz)

    1x XF-R 3-1, 磁场探头(30MHz-6GHz)

    1x XF-R 400-1, 磁场探头(30MHz-6Hz)

    1x XF-U 2.5-1, 磁场探头(30MHz-6GHz)

    1x SMA-SMA 1 m, SMA-SMA 测量电缆

    1x XF 1 qg, XF1系列 快速指南

    1x Case 5

    2、                      其他探头

    img2

    XF-R 400-1磁场探头(30MHz-6GHz)Ø ≈ 25 mm

    img3

    XFS-R 100-1磁场探头(30MHz-6GHz)

    Ø ≈(10x10) mm,分辨率10mm

    img4

    XF-R 3-1磁场探头(30MHz-6GHz)

     Ø ≈3 mm,分辨率1mm

    img5

    XF-B 3-1磁场探头(30MHz-6GHz)

     Ø ≈4mm,分辨率2mm

    img6

    XF-U 2.5-1磁场探头(30MHz-6GHz)

     Ø ≈4mm,分辨率0.5mm

    img7

    XF-E 09s电场探头(30MHz-6GHz)

     Ø ≈10*10mm

    img8

    XF-E 04s电场探头(30MHz-6GHz)

    Ø ≈5*5mm

    img9

    XF-E 10电场探头(30MHz-6GHz)

    Ø ≈0.5*2mm 分辨率=0.2mm

     

     

    SX近场探头测试方法如下图:

    近场探头需要配合频谱仪或接收机使用

     

    img10

     

    各个探头的频率特性曲线和插入损耗可以联系EUTTEST咨询。

    使用低分辨率的探头找到大概的干扰位置,然后再用高分辨率的探头找到具体元件位置。

    主要技术参数:

    频率范围:30MHz -6GHz

    接口:SMB, male, jack

    • 国家
      德国
    • 附件
      EMC整改工具
    • 厂家
      LANGER-EMV
最后修改:2019-08-12 01:02
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