集成电路电磁兼容测试

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集成电路（IC）通常是电子设备和系统的无意电磁辐射的最终来源。然而，IC太小而不能自行辐射。为了辐射足够强的场以引起干扰问题，集成电路IC的电磁兼容干扰耦合方式必须将能量从IC封装通过传导耦合、电场耦...

IC集成电路的用户能够根据其 EMC 参数比较各种类型的 IC，IC研发人员应充分了解IC集成电路的EMC测试项目和测试设备，目标是确定那些对 EMC 抗扰度和辐射起决定性作用的参数，并允许工程师为...

汽车行业电子模块开发过程中的 EMC 问题导致开发成本非常高和时间损失，所以汽车电子对集成电路芯片的EMC要求车载芯片需要满足一定的标准限值。这就是为什么越来越多的高度集成的、对 ESD 敏感的 IC...

EMC对芯片功能的影响可能会有很大差异，从短暂的可容忍故障（例如端口输出的短时间切换）到 IC 的完全故障，即功能的永久性丧失。本文讨论通过 IC 引脚进行的传导干扰和IC 集成电路芯片受电磁场耦合引...

本文介绍了IC 集成电路芯片受ESD静电的影响评价，IC 通常是造成干扰发射或抗扰弱点的原因，在这种情况下很难控制它们。随着时间的推移，IC 的结构变得越来越小，这导致更高的开关速率并需要降低电源电压...

本文介绍了 IC EMC问题来源于IC对快速脉冲的敏感性随其结构尺寸、工作电压、工作点的较少而显著增加，说明提高IC集成电路的电磁兼容性能应该首先从符合IEC标准开始,使用者需要在开发过程中营造一个逼...

IC 的 EMC 标准 (IEC 62132) 为此类表征提供了三种典型的测量方法：DPI（直接功率注入）方法、TEM 单元（横向电磁单元）方法和 IC 带状线的使用。本文更详细地研究了IC 集成电路...

从器件到芯片的EMC测试分析包含两部分内容，在 IC 级分析抗扰度的好处是不需要考虑设备设计对 EMC 的影响。例如，这包括印刷电路板的设计、连接器的性质和可用性或外壳结构。此外，在测试 IC 抗扰...