电磁兼容测试 - Page 10 Of 16

当前分类有以下学习资料：

当前分类已发布的学习资料总数: 79；当前页面共: 7篇资料。

本文介绍了IC 集成电路芯片受ESD静电的影响评价，IC 通常是造成干扰发射或抗扰弱点的原因，在这种情况下很难控制它们。随着时间的推移，IC 的结构变得越来越小，这导致更高的开关速率并需要降低电源电压...

本文介绍了 IC EMC问题来源于IC对快速脉冲的敏感性随其结构尺寸、工作电压、工作点的较少而显著增加，说明提高IC集成电路的电磁兼容性能应该首先从符合IEC标准开始,使用者需要在开发过程中营造一个逼...

IC 的 EMC 标准 (IEC 62132) 为此类表征提供了三种典型的测量方法：DPI（直接功率注入）方法、TEM 单元（横向电磁单元）方法和 IC 带状线的使用。本文更详细地研究了IC 集成电路...

从器件到芯片的EMC测试分析包含两部分内容，在 IC 级分析抗扰度的好处是不需要考虑设备设计对 EMC 的影响。例如，这包括印刷电路板的设计、连接器的性质和可用性或外壳结构。此外，在测试 IC 抗扰...

本文从EMC测试标准对IC集成电路的要求、EMC电磁兼容在IC集成电路内部的耦合机理（包括电场和磁场耦合），并介绍了如何从IC引脚测量EMC参数等方面说明了 IC EMC 集成电路电磁兼容问题来源。

由EUTTEST为您编写的德国langer-emv模拟转光纤信号传感器到示波器显示出来的完整使用方法，对应型号：A100-1 set 和 A100-2 set；都包含 AS100；A200-1 set...

TEM-cell 是一种可以用于EMC 辐射发射和辐射抗扰度测试的测试仪器，本文对 TEM-cell 有多种不同的结构、原理、种类、测试方法等方面作了详细介绍。