P603 / P750 set 集成电路射频传导测量分析探头

产品简介：

P603 / P750 set 是由德国 Langer EMV-Technik 公司生产的专用于集成电路射频传导测量分析探头套装，该套装内包含 P603 （1Ω电流探头）和 P750 （150Ω电压探头）两个不同的探头，还提供了标准的CS-ESA传导测试软件。

此探针组合被授权由深圳EUTTEST代理销售和报价服务。

测试功能说明：

此探针组合用于测量IC引脚处的传导发射（直接用1欧姆/150欧姆耦合芯片引脚测量传导发射信号），配置了两个探头分别可于电流和电压测量。探针可以触及并接触每个测试IC引脚。

搭配使用 Langer EMV-Technik的ICE1 set 集成电路EMC测试环境可以用于在上位机端远程启动测试IC，还可以使用ChipScan-ESA软件进行测量。所有被测引脚的测量结果都保存在软件中，可以快速、系统地进行比较。

P603 / P750 set 包含附件清单：

点击下方列表产品型号了解套装内附件的详细参数。

推荐搭配产品：

ICE1 set 集成电路测试环境