简介：
XF1 SET 系列近场探头是由德国 Langer-emv 公司生产并由EUTTEST代理销售的高分辨率近场探头， XF1 SET 包含4个无源磁场探头和3个无源电场探头。
用途：
XF1 SET 用于在电子模块研发阶段进行电场和磁场的测量，覆盖频率范围为30MHz到6GHz。这种探头内置阻抗匹配器，因而与其他探头（如RF型探头）相比在低频区域较不敏感。很宽的测试频率范围并包含从很大到很小尺寸的各种探头，因而有着广泛的应用。 XF1 探头的组合完全按照顾客的需求。 XF系列的探头可以用于逐步查找模块的干扰场源。我们建议，首先使用大型高灵敏探头从远距离查找模块的干扰放射源，然后再用更高分辨率的探头进一步精确定位干扰源。通过相应地操作近场探头，能够测量出电磁场的方向及其分布。这种近场探头小巧轻便，并采用外皮电流衰减。磁场探头采用电屏蔽设计。XF1 SET 近场探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。这些近场探头的内部安装有终端电阻。
- 6GHz高分辨率：MFA01 SET Langer-EMV 高分辨率近场探头 1MHz-6GHz
- 20GHz近场探头已推出，请查看链接产品：SX1 SET LANGER-EMV 无源近场探头 1GHz-10(20)GHz
- 40GHz近场探头已推出，请查看链接产品：HR-E 40-1 set langer-emv 磁场近场探头40GHz
主要技术参数：
频率范围：30MHz -6GHz
接口：SMB, male, jack
装箱清单:
XF1 SET 包含的以下探头可以任意搭配选购，Ø 是可测试的大概分辨率：
- 1x XF-B 3-1, 磁场探头（30MHz-6Hz）
- 1x XF-E 10, 电场探头（30MHz-6GHz）
- 1x XF-R 3-1, 磁场探头（30MHz-6GHz）
- 1x XF-R 400-1, 磁场探头（30MHz-6Hz）
- 1x XF-U 2.5-1, 磁场探头（30MHz-6GHz）
- 1x SMA-SMA 1 m, SMA-SMA 测量电缆
- 1x XF 1 qg, XF1 SET 系列 快速指南
- 1x Case 5
其他可选的单探头
<<<<提醒：左右滑动表格>>>> XF-R 400-1 | XF-R 400-1 磁场探头（30MHz-6GHz）Ø ≈ 25 mm |
 XFS-R 100-1 | XFS-R 100-1 磁场探头（30MHz-6GHz） Ø ≈(10×10) mm,分辨率10mm |
 XF-R 3-1 | XF-R 3-1 磁场探头（30MHz-6GHz） Ø ≈3 mm,分辨率1mm |
 XF-B 3-1 | XF-B 3-1 磁场探头（30MHz-6GHz） Ø ≈4mm,分辨率2mm |
 XF-U 2.5-1 | XF-U 2.5-1 磁场探头（30MHz-6GHz） Ø ≈4mm,分辨率0.5mm |
 XF-E 09s | XF-E 09s 电场探头（30MHz-6GHz） Ø ≈10*10mm |
 XF-E 04s | XF-E 04s 电场探头（30MHz-6GHz） Ø ≈5*5mm |
 XF-E 10 | XF-E 10 电场探头（30MHz-6GHz） Ø ≈0.5*2mm 分辨率=0.2mm |
测试方法
近场探头需要配合频谱仪或接收机使用
XF1 set 配合频谱仪测试配置图
每个探头的频率特性曲线和插入损耗可以联系EUTTEST咨询。
使用低分辨率的探头找到大概的干扰位置，然后再用高分辨率的探头找到具体元件位置。
