标准简介：
IEC 61967-1：2018可作为 IEC 61967-1：2018 RLV 其中包含国际标准及其修订版，显示了与上一版相比技术内容的所有变化。
IEC 61967-1：2018提供了有关集成电路传导和辐射电磁骚扰测量的一般信息和定义。它还提供了测量条件、测试设备和设置以及测试程序和测试报告内容的描述。附录A中包含了试验方法对比表，以帮助选择适当的测量方法。本文件的目的是描述一般条件，以建立统一的测试环境，并获得对集成电路（IC）射频干扰的定量测量。描述了预期会影响测试结果的关键参数。与本文件的偏离在单独的测试报告中明确注明。测量结果可用于比较或其他目的。在受控条件下，对来自集成电路的传导RF发射或辐射RF干扰的电压和电流的测量产生关于集成电路应用中RF干扰的可能性的信息。适用的频率范围在IEC 61967的每个部分中描述。
与上一版相比，本版本包括以下重大技术变更：
– 从标题中删除了150 kHz至1 GHz的频率范围;
– 在表1、表2和5.4中增加了1 GHz以上的频率步长;
– 将表A.1分为两个表，并在附录A的表A.2中增加了IEC 61967-8;
– 一般测试板描述已移至附录D。
最新标准：
标准查新于2024年4月。
- IEC 61967-1：2018 集成电路.电磁辐射的测量.第1部分：一般条件和定义
- IEC 61967-1: 2018 Integrated circuits – Measurement of electromagnetic emissions – Part 1: General conditions and definitions
标准修订历史：
<<<<提醒：左右滑动表格>>>>| 2018-12-12 | IEC 61967-1：2018 RLV | 2.0 | 有效 |
| 2002-03-12 | IEC 61967-1：2002 | 1.0 | 修订 |
标准目录：
8.5软件说明。16
8.6数据呈现。16
8.6.1一般16
8.6.2图形表示。16
8.6.3测量数据。16
8.6.4数据处理16
8.7射频发射限值。16
8.8结果的解释。16
8.8.1使用相同试验方法的IC之间的比较16
8.8.2不同试验方法之间的比较。16
8.8.3与模块测试方法的相关性16
附录A（信息性）试验方法比较表17
附录B（信息性）计数器测试代码的流量图。19
附件C（信息性）最坏情况应用软件说明。20
附件D（信息性）一般测试委员会说明。21
D、1一般。。21
D、2板描述-机械。21
D、3.电路板说明-电气。。21
D、4.地面飞机21
D、5个包装引脚。22
D、5.1概述22
D、5.2 DIL包22
D、5.3 SOP、PLCC、QFP包22
D、5.4 PGA包。22
D、5.5 BGA包。22
D、6通过直径。22
D、7通过距离。22
D、8.附加组件22
D、9供应拆卸。22
D、9.1概述22
D、9.2 IC解耦合电容器。23
D、9.3测试板的电源断开23
D、10 I/O负载。23
书目。。25
图B.1–测试代码流图19
图D.1–排放测试板示例。24
表1–测量接收器频带和分辨率带宽（RBW）默认设置。11
表2–频谱分析器频带和RBW默认设置。12
表3–IC引脚加载建议14
表A.1——传导排放。17
表A.2——辐射排放18
表D.1——板上通孔的位置21
前言4
1范围6
2规范性参考文献6
3术语和定义6
4测试条件。10
4.1概述。。10
4.2环境条件10
4.2.1概述10
4.2.2环境温度11
4.2.3环境射频场强度11
4.2.4其他环境条件
4.2.5 IC随时间的稳定性。11
5测试设备。11
5.1一般。。11
5.2屏蔽11
5.3射频测量仪器。11
5.3.1概述11
5.3.2测量接收器11
5.3.3频谱分析仪。12
5.3.4窄带排放的其他RBW。12
5.3.5.排放类型、探测器类型和扫掠速度。12
5.3.6视频带宽。12
5.3.7射频测量仪器校准的验证。12
5.4频率范围13
5.5前置放大器或衰减器。13
5.6系统增益.13
5.7其他部件13
6测试设置。。13
6.1一般。。13
6.2测试电路板。13
6.3 IC引脚加载。。13
6.4电源要求-测试板电源。14
6.5 IC具体考虑。14
6.5.1 IC电源电压.14
6.5.2 IC断开14
6.5.3 IC的活动。。14
6.5.4 IC操作指南。14
7测试程序。15
7.1环境射频噪声检查15
7.2操作检查。15
7.3具体程序15
8测试报告15
8.1一般。。15
8.2环境射频噪声。15
8.3设备说明。15
8.4设置说明16
标准正文：
IEC 61967 的这一部分提供了有关测量集成电路传导和辐射电磁干扰的一般信息和定义。它还提供了测量条件、测试设备和设置的描述，以及测试程序和测试报告的内容。测试方法比较表包含在附件 A 中，以帮助选择合适的测量方法。
本文档的目的是描述一般条件，以便建立统一的测试环境并获得集成电路 （IC） 射频干扰的定量测量值。描述了预期会影响测试结果的关键参数。
与本文档的偏差在单个测试报告中明确注明。测量结果可用于比较或其他目的。
在受控条件下测量来自集成电路的传导射频发射或辐射射频干扰的电压和电流，可获得有关集成电路应用中潜在射频干扰的信息。
IEC 61967 的每个部分都描述了适用的频率范围。
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