天线分析设计扫描仪

天线分析设计扫描仪是用于开发有源和无源天线过程中使用的一种研发设备。
使用该设备可以让天线工程师快速得到设计天线的远场模式、等分、EIRP和TRP、增益、效率和S11的实测效果图，可与天线仿真结果相比对验证。
现在更新了新的近场结果，包括振幅、极性和相位，可以深入了解天线性能挑战的根本原因，并有助于解决远场辐射模式的问题。可帮助开发和评估单天线或多天线结构（包括 MIMO 解决方案）的设计人员。