SX1 无源近场探头德国LANGER-EMV 1GHz-10(20)GHz

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Product Description

 

SX1 无源近场探头德国LANGER-EMV 1GHz-10(20)GHz
SX1 无源近场探头德国LANGER-EMV 1GHz-10(20)GHz

SX1是什么?

SX1是由德国langer-emv公司生产并由EUTTEST代理销售的近场探头组,SX1包含2个无源近场探头,用于在研发阶段以高时钟频率测量电子模块上的电场和磁场,频率范围为1GHz到10GHz(SX-R 20-1 set磁场探头(1GHz-20GHz))。SX探头组的探头可以紧贴电子模块进行测量,比如贴近单个集成电路引脚、导线、元件及其连接点,从而定位干扰信号源。通过相应地操作近场探头,能够测量出电子模块上电磁场的方向及其分布。这种近场探头小巧轻便,并具备外皮电流衰减和电屏蔽。 这种近场探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。探头内部有一个终端电阻。

SX1装箱清单:

以下探头可以任意搭配选购,Ø 是可测试的大概分辨率:

SX序列近场探头包含多个探头:

SX1 set :1GHz-10GHz

1x SX-E 03, 电场探头(1GHz-10GHz)

1x SX-B 3-1

1x SX-R 3-1, 磁场探头(1GHz-10GHz)

1x SMA-SMA 1 m, SMA-SMA 测量电缆

1x Case 4

SX-R 20-1 set :1GHz-20GHz

1x SX-R 20-1, 磁场探头(1GHz-20GHz) SMA

1x SMA-SMA 1 m, SMA-SMA 测量电缆

1x Case 4

各探头参数:

SX-R 3-1
SX-R 3-1
SX-R 3-1, 磁场探头(1GHz-10GHz)

Ø ≈ 3 mm;分辨率=1mm

SX-R 20-1
SX-R 20-1
SX-R 20-1磁场探头(1GHz-20GHz) SMA

Ø ≈ 6*6 mm

SX-B 3-1
SX-B 3-1
SX-B 3-1, 磁场探头(1GHz-10GHz)

Ø ≈ 4 mm;分辨率=1mm

SX-E 03
SX-E 03
SX-E 03, 电场探头(1GHz-10GHz)

Ø ≈ 4*4 mm

SX1近场探头测试方法如下图:

近场探头需要配合频谱仪或接收机使用

SX1近场探头测试方法
SX1近场探头测试方法

各个探头的频率特性曲线和插入损耗可以联系EUTTEST咨询。

使用低分辨率的探头找到大概的干扰位置,然后再用高分辨率的探头找到具体元件位置。

主要技术参数:

频率范围:1GHz -10GHz(20GHz)

接口:SMB, male, jack

 

任选其一:

①、发送邮件到:sales@euttest.com

②、电话咨询

③、填写以下表单,EUTTEST主动给您发邮件确认。