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IEC 62132-8 集成电路EMC测试设备

IEC 62132-8:2012规定了一种测量集成电路(IC)对150 kHz至3 GHz频率范围内射频(RF)辐射电磁干扰的抗扰度的方法。

标准名称:
IEC 62132-8:2012 Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity – Part 8: Measurement of radiated immunity – IC stripline method
EC 62132-8:2012 集成电路电磁抗扰度测量第8部分:辐射抗扰度测量IC带状线法

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