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本文介绍了IC 集成电路芯片受ESD静电的影响评价，IC 通常是造成干扰发射或抗扰弱点的原因，在这种情况下很难控制它们。随着时间的推移，IC 的结构变得越来越小...
本文介绍了 IC EMC问题来源于IC对快速脉冲的敏感性随其结构尺寸、工作电压、工作点的较少而显著增加，说明提高IC集成电路的电磁兼容性能应该首先从符合IEC标...
IC 的 EMC 标准 (IEC 62132) 为此类表征提供了三种典型的测量方法：DPI（直接功率注入）方法、TEM 单元（横向电磁单元）方法和 IC 带状线...
从器件到芯片的EMC测试分析包含两部分内容，在 IC 级分析抗扰度的好处是不需要考虑设备设计对 EMC 的影响。例如，这包括印刷电路板的设计、连接器的性质和可用...
本文从EMC测试标准对IC集成电路的要求、EMC电磁兼容在IC集成电路内部的耦合机理（包括电场和磁场耦合），并介绍了如何从IC引脚测量EMC参数等方面说明了 I...
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