E1 set LANGER EMV 抗干扰开发系统 ESD/EFT/BCI整改

简介：

产品型号为E1 set的抗干扰性开发系统是由德国LANGER-EMV公司生产并由EUTTEST销售的产品，它们是一套集成电路板PCB开发过程中进行EMS抗干扰分析的EMC工具系统。

采用E1 SET抗干扰开发系统，能够快速精准地整改定位脉冲群干扰和静电放电干扰的原因（薄弱点），使工程师开发人员能够准确针对薄弱点设计恰当的EMC措施，并且使用E1 SET评估EMC措施的效果。E1 SET检测设备的搭建空间小，适宜于在电子元件开发人员的工作场地使用。

EUTTEST和langer-emv共同推出的E1 SET中文用户手册对EMC工作机制以及集成电路板去干扰的基本测量策略作出详细描述。E1 SET组套包括一个脉冲群干扰和静电放电干扰发生器、九种不同的电场和磁场源、以及其他各类附件。

E1 SET用于EMS整改，EMI整改请查看以下产品：

6GHz近场探头：XF1setLANGER-EMV无源近场探头30MHz-6GHz

20GHz近场探头已推出，SX1SETLANGER-EMV无源近场探头1GHz-10(20)GHz

40GHz近场探头已推出，HR-E40-1setlanger-emv磁场近场探头40GHz

150kHz-8GHz辐射发射整改，EMScanner实时电磁兼容EMC的高速8GHz桌面RE整改工具

E1抗干扰性开发系统产品特点：

产品的抗干扰设计，来源于企业对产品质量的追求，同时也是电磁兼容测试标准的要求。由于瞬态干扰具有快速和宽频谱等特点，传统的示波器和频谱分析仪等手段，都无法准确测量瞬态电

磁场。产品的抗干扰设计，只能在产品最终测试阶段来考虑，采取的手段是屏蔽或者滤波，对外界干扰进行隔离或者直接引到接地系统。

LANGER抗干扰开发系统，采用无互扰的特殊测量手段和独创的脉冲率测试法，在设计阶段排除电磁敏感性问题，提高产品设计质量，增强产品的稳定性和可靠性。

在电磁兼容测试要求中，下列测试项目为突发干扰测试项目：

• IEC61000-4-4（国标GB/T-17626.4）：电快速瞬变脉冲群抗扰度试验
• IEC61000-4-2（国标GB/T-17626.2）：静电放电抗扰度试验
• GJB151A/152A－CS115：电缆束注入脉冲激励传导敏感度
• GJB151A/152A－RS105：瞬变电磁场辐射敏感度

E1抗干扰性开发系统测试原理：

E1 set能对被测物施加突发干扰，再现被测物出现故障的现象；能采用不同的方式，向电子模块直接注入突发性的电场干扰或磁场干扰，从而定位电路板上的电磁薄弱点，理解耦合机理，并完成最优化的设计修改。

从功能上，LANGER抗干扰开发系统由信号源、场源探头组、瞬态磁场探头组、光纤输入计数器、EMC传感器等组成，各部分相互配合，实现电磁敏感点的快速定位：

SGZ 21信号源，具有隔离输出功能的，产生连续的类似于EFT脉冲群或者ESD的干扰脉冲，脉冲的上升沿时间为2ns，下降沿时间为约10ns。这些脉冲包含的能量比2/50ns的EFT脉冲群脉冲【根据EN61000-4-4】或ESD【根据EN61000-4-2】脉冲小，因此能在不损坏被测设备的情况下，把干扰直接耦合到电子模块内，判断是磁场敏感还是电场敏感，再利用瞬态磁场探头测量磁突发场强度，并分析干扰电流路径。

场源探头组，包括各种尺寸和形状的磁场场源探头和电场场源探头，最小分辨率可达小于1mm。可以连接到SGZ 21信号源，向被测电路中的接地系统、电源系统、集成电路、引脚、分立元件、关键布线、电缆、接插件等地方注入干扰，用于精确定位电路敏感点位置。

采用多种EMC传感器监测PCB上的关键信号线、电源、地、电缆、接插件等被干扰的情况。

SGZ 21输出的脉冲信号，其脉冲幅度是连续变化的，峰值在0－1500V之间，按统计平均分布。发生器内内置了一个带光纤（2.2mm塑料光纤）输入的计数器。利用计数器和信号源的特殊信号，配合传感器和瞬态磁场探头，LANGER独创了脉冲率测试法，利用这种方法能对电路模块进行快速的抗干扰性能评估，也能快速评估电路修改、屏蔽、滤波的有效性，从而节省大量的开发时间。

E1抗干扰性开发系统装箱单

• SGZ 21,脉冲群发生器-脉冲密度计数器
• S21,光学传感器（10Mbps）
• BS 02
• BS 04DB,磁场源探头
• BS 05D,磁场源
• BS 05DU,磁场源探头
• ES 00,电场源探头
• ES 01,电场源探头
• ES 02,电场源探头
• ES 05D,电场源探头
• ES 08D,电场源探头
• MS 02,磁场探头
• E1 acc
• NT FRI EU
• E1 case,Systemcase
• E1m,E1系列用户手册

E1抗干扰基本开发设备，包括SGZ 21信号源【内置光纤输入的计数器】，S31传感器，MS02无源瞬态磁场探头以及一组磁场场源探头和电场场源探头。

2.1 SGZ 21信号发生器

SGZ 21产生连续的类似于Burst或者ESD的干扰脉冲，脉冲的上升沿时间为2ns，下降沿时间为约10ns。这些脉冲包含的能量比2/50ns的Burst脉冲【根据EN61000-4-4】或ESD【根据EN61000-4-2】脉冲小，因此能在不损坏被测设备的情况下，把干扰直接耦合到电子模块内。由于SGZ 21产生的脉冲，上升沿时间短，峰值电压也比较低，所以这些干扰对被测设备的影响，是和EN61000-4-4的Burst脉冲的影响类似的。

2.2 MS02磁场探头

MS02是一个无源探头，无需额外能量，通过光纤连接到SGZ 21输入。

如果MS02检测到磁场脉冲，它就会发出一个光脉冲。光脉冲的数量，可以在SGZ 21计数器上读到，这个值和测量到的平均磁场强度成一定的比例。详细参考脉冲率测试方法

2.3 S31传感器

流过EUT的干扰电流会产生磁场。通过磁场的强度和方向等信息能提供干扰电流的分布情况。E1内含了一个MS02磁场探头。

MS02是一个无源探头，无需额外能量，通过光纤连接到SGZ 21输入。如果MS02检测到磁场脉冲，它就会发出一个光脉冲。光脉冲的数量，可以在SGZ 21计数器上读到，这个值和测量到的平均磁场强度成一定的比例。详细参考脉冲率测试方法（见2.5节内容）。

E1 set技术参数：