IC integrated circuit EMC and safety regulations
IEC 61967-2 Integrated circuit 150kHz-1GHz electromagnetic emission TEM cell test method standard analysis
IEC 61967-2定义了测量集成电路(IC)电磁辐射的方法。被评估的IC安装在IC测试印刷电路板(PCB)上,该PCB被夹持到在横向电磁(TEM)或宽带千兆赫TEM(GTEM)室的顶部或底部切割的配合端口(称为壁端口)。测试板不像传统的使用方法那样位于TEM CELL内部,而是成为TEM CELL壁的一部分。